열장 발사 환경 스캐닝 렌즈

1, 업그레이드된 신제품 -환경 검색 기술의 고분별장에서 스캐닝 렌즈를 발사합니다.

2, 완벽한 구성

Quattro필드 발사 스캐닝 렌즈는 사용자에게 고진공의 2차 전자 프로브, 저진공의 2차 전자 프로브, 환경 진공의 2차 전자 프로브, 그리고 배산란 전자 프로브, 적외선CCD머리를 내밀다.사용자가 향후 작업 중에 발생할 수 있는 모든 상황을 만족시켜 샘플 제조에 대한 사용자의 요구를 최대한 낮출 수 있다.

저진공/환경 진공 기술로 인해 무전기 샘플과/또는 물을 함유한 샘플은 전도처리를 거치지 않고 직접 영상과 분석을 할수 있으며 샘플표면에는 전하루적현상이 없다.

3, 독특한 전자 광학 기술이 성숙한 쇼트 기장 발사 전자총, 고정식 말단 광맹,60°/45°2단 테이퍼 부츠, 큰 작업 거리 정밀 초점 기술 등은 전도와 비전도 샘플을 진행할 수 있다EDS/EBSD분석, 고진공 모드, 저진공 모드 또는 환경 진공 모드.

안정된 대속류(최대200 nA)스펙트럼 확보EBSD분석 작업의 신속성과 정확성.

4, "렌즈를 통해”압차 진공 시스템 설계

일반 고진공 스캔 전자현미경의 샘플실과 거울통은 모두 고진공 상태이므로 분석된 샘플은 반드시 고체의 전도성 샘플이어야 하며, 만약 샘플이 고체와 전도성이 아니라면 샘플을 처리하여 샘플이 요구에 도달하도록 해야 한다.그러나 연구 작업에서 만난 샘플 중 고체 전도성 샘플은 아주 적은 부분일 뿐이며, 보통 우리는 비전도 고체 샘플, 표면에 물이 함유되어 있고 기름이 함유된 고체 샘플 및 비고체 샘플을 만나기도 한다.

환경 스캐닝 전자 현미경에서 특수 진공 시스템 설계를 통해 세 구역에 두 개의 다른 펌프를 사용한다진공 흡입, 샘플실의 진공도가 낮아져, 고진공에 적응하지 못하는 샘플은 원시적인 상태를 유지할 수 있다.상태, 스캔 전자 현미경에서 관찰 및 분석.

이와 동시에 전자현미경을 스캔하는 경통부분은 여전히 고진공상태에 처해있어 전자광학계의 요구를 만족시킨다.환경 스캔 전자 현미경에서 샘플실에 수증기를 충전함으로써 물 함유 샘플과 생물 샘플의 원시 상태를 유지할 수 있다.FEI/필립스 환경 스캔 전자 현미경의 샘플실 가스 압력은 10Pa~4000Pa 사이에서 변경되어 샘플에서 물의 균형을 이루거나샘플의 탈수, 증습 테스트를 진행하다.

5, 2차 전자 탐지기

일반 고진공 스캐닝 전자 현미경에서는E‐T2차 전자 탐지기.이런 탐측기는 저진공 상태에서는 작동할 수 없다.시료실 저진공 상태에서 2차 전자신호를 탐지할 수 있도록FEI/필립스는 저진공 2차 전자 탐지기를 개발했다GSED。

GSED2차 전자 탐지기의 해상도는 도달할 수 있다< 1.4 nm일반 고진공 선글라스와 해상도 지표가 같다.그리고GSED탐사선이 극복했습니다E‐T탐측기의 단점은 발광, 가열된 샘플을 관찰할 수 있다.

6、특수 샘플 창고 설계284mm대형 샘플 창고는 전체적으로 주조되어 5축 모터에서 전자동으로 구동되어 사용자에게 이중 보증을 준다.수동 작업 시, xT‐ 선글라스 제어 소프트웨어도 시료대 작동 모니터링,샘플의 좌표의 유일성을 보증하다.샘플 위치 및 관찰 조건 기억 기능을 통해 관심 영역의 위치 및 전경 조건을 기억할 수 있습니다.,언제든지 기억의 위치와 관찰 조건을 회복할 수 있다,사용자의 비교 분석 작업을 용이하게 합니다.

7, 고유한 단일 및 쿼드 창 작업 인터페이스

동시에 2차 전자상, 배산란상, 그리고 그들의 혼합상, 그리고 적외선을 표시할 수 있다CCD실시간 감시 카메라.

이렇게 하면 전방위적인 정보를 얻을 수 있다.통제구역 기능 사용이 매우 인간적이다.,제어 기능은 쉽게 접근할 수 있습니다.

8、특수 적외선CCD설계

적외선CCD프로브 설계는 샘플 창고의 내부 상황을 실시간으로 모니터링할 수 있을 뿐만 아니라 동시에 이 창을 통해 샘플대의 이동을 제어할 수 있을 뿐만 아니라 이 침대 공간을 이용하여 저배 사진을 촬영하여 네비게이션을 진행할 수 있다.

9, 분석형 말단 광맹.

일반적인 저진공 스캐닝 전자현미경에서는 저진공 상태에서 스펙트럼 분석의 공간 해상도와 분석 정밀도가 크게 낮아져 스펙트럼 분석의 실용성을 거의 상실했다.환경 스캔 전자 현미경에서FEI/필립스는 분석형 말단 광맹을 배치하여저진공 상태에서의 스펙트럼 분석의 공간 해상도와 분석 정밀도를 보장할 수 있다.

10, 디지털 스캔 기술

Quattro 스캐닝 렌즈,FEI/필립스는 디지털화된 전자빔 스캐닝 기술을 채용했다,Quant를 통해서도axT‐ 제어 소프트웨어가 선글라스를 조작하다,외부 타사 분석 장비인지 여부,모두 네트워크 구조를 기반으로 디지털 스캔 제어를 합니다.예:,사용자가 Quant에 있는 경우a에 스펙트럼 시스템 설치,스펙트럼 회사는 Quanta설계된 스펙트럼 프로브는Quattro견본실,로 설정Quattro 설계된 스펙트럼 분석기 통과Quattro네트워크 연결을 위한 네트워크 허브 제공,스펙트럼은 통과할 수 있다Quattro의 디지털 스캐너는 샘플 표면에서 전자빔의 스캐닝을 제어합니다.

11, 진공 시스템

FEI/필립스의 이온 펌프, 분자 펌프, 기계 펌프 진공 시스템,무유 오염,속도가 빠르다.

12, 미시실험실

Quattro환경 스캐닝 렌즈는 핫 스테이션, 냉각 스테이션, 스트레칭 스테이션과 같은 특수 원본 샘플 스테이션을 설치할 수 있습니다.부터 - 165 °C140까지0 °C온도 범위 내에서 여러 종류의 샘플을 원시 상태로 유지하여 동적 제자리 분석을 진행한다.