Verios XHR SEM

Verios예FEI리드XHR(고해상도)SEM시리즈의 2세대 제품.첨단 반도체 제조 및 재료 과학 응용에서 1 다음30 kV범위 내에서 나노미터급 해상도와 향상된 명암비를 제공하여 재료의 정밀 측정에 필요한 것을 만족시키는 동시에 전통적인 스캐닝 전자 현미경을 약화시키지 않는다(SEM)처리량, 분석 능력,샘플 유연성 및 사용 편의성 등의 이점

Verios의 재료 과학 응용

재료 과학자들에게Verios촉매 입자, 나노튜브, 공극, 인터페이스, 생체 개체 및 기타 나노 레벨 구조와 같은 현재 개발 중인 새로운 재료 (예: 촉매 입자, 나노 튜브) 로 나노 징후를 확장하여 중요한 새로운 발견을 얻을 수 있습니다.전환할 필요 없음TEM또는 다른 이미징 기술을 사용하여 고해상도, 고대비 이미지를 얻을 수 있습니다.Verios각종 연구 응용에 유연하게 사용할 수 있으며, 전체 사이즈의 웨이퍼나 야금 샘플 같은 큰 샘플을 수용할 수 있다.고전류 모드에서 빠른 분석을 수행하거나 전자빔 감지 재료의 직접 퇴적 또는 포토레지스트와 같은 정확한 원형 설계 응용을 수행할 수 있습니다.

뛰어난 저전압SEM해상도 및 재료 명암비

Verios실험실에서 발표 가능한 결과물을 추가하도록 설계되었습니다.Verios다음을 수행할 수 있습니다.500 eV도착30 keV전체 에너지 범위 내의 나노미터급 해상도는 촉매 입자, 나노튜브, 구멍, 인터페이스, 생체 객체 및 기타 나노미터급 구조와 같은 새로운 재료로 확장됩니다.전환할 필요 없음TEM또는 다른 이미징 기술을 사용하여 고해상도, 고대비 이미지를 얻을 수 있습니다.Verios각종 연구 응용에 유연하게 운용할 수 있으며, 전 사이즈의 웨이퍼나 야금 샘플 같은 큰 샘플을 수용할 수 있다.고전류 모드에서 빠른 분석을 수행하거나 전자빔 감지 재료의 직접 퇴적 또는 포토레지스트와 같은 정확한 원형 설계 응용을 수행할 수 있습니다.

고해상도 탐색SEM구현된 세계

Verios예FEI리드XHR SEM제품군의 2세대 제품 1 도착30 kV정확한 이미징을 위해 에너지 범위의 나노미터급 해상도.다양한 응용 분야에서 대용량, 분석 기능, 샘플 유연성 및 전통에 영향을 주지 않고 재료를 정확하게 측정하는 데 필요한 뛰어난 명암비를 제공합니다.SEM사용 편이성Verios열 안정성을 향상시킬 수 있는 고정 전력 렌즈와 편전 선형을 향상시킬 수 있는 정전기 스캐닝과 같은 고유한 기술을 갖추고 있습니다.매개변수를 선택하고 큰 샘플을 처리하거나 분석이나 광각과 같은 더 많은 응용을 지원하는 데 매우 유연합니다.도움Verios XHR SEM임시 사용자든 전문가든 짧은 시간 내에 정확하고 완전한 나노미터급 데이터를 얻을 수 있으며, 이전에 다른 기술을 사용할 때 얻을 수 없었던 정보를 발견할 수 있다.