현미분광막 두께계(OPTM 시리즈)

목표 필름의 * * 반사율을 측정하고 고정밀도로 필름 두께와 광학 상수를 측정합니다!비접촉·비파괴·현미

측정 시간은 1초!

현미분광막 두께계(OPTM 시리즈)는 현미분광법을 사용하여 미세한 영역에서 **반사율을 통해 측정되며, 고정밀 막 두께/광학 상수 분석이 가능하다.다양한 필름, 웨이퍼, 광학 재료 및 다층 필름과 같은 비파괴 및 비접촉 방식으로 코팅의 두께를 측정합니다.측정 시간에서 1초/점의 고속 측정이 가능하며, 처음 사용하는 사용자라도 광학 상수를 쉽게 분석할 수 있는 소프트웨어가 탑재되어 있다

제품 특징:

• 헤드에 박막 두께 측정에 필요한 기능이 내장되어 있음

• 현미경 분광법으로 고정밀 ** 반사율(다층막 두께, 광학 상수) 측정

• 1시 1초 고속 측정

• 현미분광 아래 넓은 범위의 광학 시스템 (자외선 * * 근적외선)

• 영역 센서의 보안 메커니즘

• 간단한 분석 마법사, 초보자도 광학 상수 분석 가능

• 독립 측정 헤드는 각종 온라인 객제화 수요에 대응한다

• 다양한 사용자 정의 지원

측정 항목:

• ** 반사율 측정

• 다층막 분석

• 광학 상수 분석 (n: 굴절률, k: 소광계수)

적용:

• 반도체: 웨이퍼 샘플의 자동 조정, 웨이퍼의 굴곡 검사

• 광학 부품: 렌즈 렌즈의 방사율, 굴곡 등 검사

제품 사양 모델：