LVS-500 시리즈 저압 서지 측정기

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개요

LVS-500 시리즈 저압 서지 측정기는 IEC 61000-4-5 표준과 GR-1089-CORE 및 C62.45-2002 IEEE 표준에 설명된 서지 파형을 준수하여 웨이퍼 및 패키징 수준에서 장치의 서지 내성을 테스트하도록 설계되었습니다.펄스 발생기를 통해 서지 응력에서 EOS 장애 임계값을 쉽게 확인할 수 있습니다.

제품 정보

ESDEMC Technology LLC는 2011년 3월 미국 미주리주 롤라에서 Wei Huang에 의해 설립되었습니다.ESDEMC는 ESD 및 EMC 솔루션을 개발합니다.회사는 혁신적이고 선진적이며 고품질의 비용 효율적인 솔루션과 일반 컨설팅, 테스트 서비스 및 맞춤형 프로젝트를 제공하기 위해 노력하고 있습니다.충전 장치 모델(CDM) 시스템, 케이블 포함방전 이벤트(CDE) 시스템, ESD 시뮬레이터, 펄스 감쇠기, 전류 프로브, 무선 주파수 송신/면역용 TEM 배터리, 고압 직류 전원, 맞춤형 고압/무선 주파수 설계.ESDEMC Technology는 2012년부터 ESD 협회의 기업 회원으로 활동하고 있습니다.

LVS-500 시리즈 저압 서지 측정기출력 파형은 IEC 61000-4-5 표준과 GR-1089-CORE 및 C62.45-2002 IEEE 표준에 설명된 서지 파형을 준수하며 웨이퍼 및 패키징 수준에서 장치의 서지 내성을 테스트하도록 설계되었습니다.펄스 발생기를 통해 서지 응력에서 EOS 장애 임계값을 쉽게 확인할 수 있습니다.

펄스 소스 설계 및 펄스 소스 전송 방법은 파형 성능이 발생기 출력이 아닌 테스트 대상 장치에 직접 작용하도록 보장합니다.각 서지 이벤트의 전류 파형을 캡처하고 분석할 수 있으며, 자동화된 펄스 장애 측정 설정도 이 프로세스를 완료하는 데 도움이 됩니다.또한 전압 파형을 포착하여 보호 구조의 개통 레벨을 결정하는 데 사용할 수 있습니다.이러한 전압 파형은 또한 장애 판정의 근거로 삼을 수 있는데, 왜냐하면 누전 특성은 펄스 사건 후에 변화할 수 있기 때문이다.

제품 특징

● 파형은 최소값부터 최대값까지 깨끗하고 선형

● 분리된 서지 펄스 회로

● 소프트웨어 제어 자동 측정

● DC 스폿 체크 및 정적 IV 테스트를 포함한 자동 장애 감지

제품 적용

● 8/20μs 및 10/1000μs 사양에 따른 전원 공급 장치, 구동 PCB, 통신 시스템, LCD 디스플레이 패널의 서지 펄스 내성 테스트

● 웨이퍼, 패키징 및 PCB의 서지/정전기 방전(ESD) 내간섭성 테스트

LVS-500 시리즈 저압 서지 측정기제품 사양

매개변수	LVS-500은	LVS-1000은	LVS-1500은	LVS-2000은	LVS-500은	LVS-1000은	LVS-1500은	LVS-2000은	단위
	-8/20				-10/1000
출력 전압@ 회로 부하	1-500	1-1000	1-1500	1-2000	1-500	1-1000	1-1500	1-2000	V
출력 전류@ 회로 부하	0.5-250	0.5-500	0.5-750	0.5-1000	0.1-50	0.1-100	0.1-150	0.1-200	A
출력 정밀도	± 5 % ± 0.1 V
출력 저항	2 ± 5%	10 ± 10%							Ω
단락 전류 전방 시간	8 ± 30%	10 (+0, -5)							μs의
단락 전류 반피크 시간	20 ± 20%	1000 ± 20%							μs의
회로 전압 전방 시간	1.2 ± 30%	10 (+0, -5)							μs의
회로 전압 피크 시간	50 ± 20%	1000 (+1000, -0)							μs의
치수	347 x 300 x 145
무게	5	6	8	10	5	6	8	10	Kg의

상해정형전자과학기술유한회사 shzhtech계기계기의 대리판매, 시험방안의 제공, 판매전 판매후의 기술지원과 계기계기의 수리를 일체화한 다원화회사이다.관련 분야의 고객에게 전문적이고 완전한 테스트 솔루션, 기술 교육, 수리 서비스를 제공하기 위해 노력합니다.

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