히타치 데스크탑 현미경 TM4000 / TM4000 Plus

제품 상세 정보:

데스크탑 스캔 전자 현미경(SEM)새로운 업그레이드.

우리는“고화질, 사용 편의성, 관찰 용이성”이념을 위해 개발되다TM4000계열.이를 바탕으로 더욱 다양한 기능을 제공합니다.TM4000Ⅱ계열.
새로운 관찰 및 분석 애플리케이션을 제공합니다.

제품 특징:

이미지 보기3분.필요한 데이터를 신속하게 얻고 보고서를 작성할 수 있습니다.

||관찰 및 분석의 유연성

각종 데이터를 자동으로 획득하다.빠른 전환!

요소 분포도를 빠르게 가져오기*2

*1 TM4000PlusⅡ의 기능입니다.

*2옵션

||사용Camera Navi*그렇다면 간단합니다.

Camera Navi이미지를 통해 시야, 분포도를 쉽게 찾을 수 있습니다.(MAP)모든 기능을 통해 관찰 가능

* 옵션:Camera Navi시스템

||간단하고 빠른 작업

이미지를 관찰하려면 3 분.
이미지를 빠르게 관찰하고 테스트 보고서를 내보낼 수 있습니다.

||Report Creator간편한 보고서 작성

이미지와 템플릿만 선택하면 제작 가능Microsoft Word、Excel、PowerPoint형식 보고서

||절연물 샘플이라도 예처리 없이 바로 관찰할 수 있다.

“정전기 감소 모드”정전기 현상을 억제할 수 있다

정전기가 발생하기 쉬운 샘플의 경우 사용 가능“정전기 감소 모드”, 정전기를 억제한 상태에서 관찰한다.

마우스로 소프트웨어를 클릭하기만 하면“정전기 감소 모드”。

||저진공 조건에서 다양한 관찰 가능

정전기가 발생하기 쉬운 분말이나 물 함유 등의 샘플은 그 목적과 결합하여 관찰할 수 있다.

||저진공 조건에서 2차 전자상 (표면 모양) 관찰을 할 수 있다.

사전 처리 없이 절연물과 물, 기름 함유 시료의 표면도 관찰할 수 있다

전통적인 전도성 샘플을 관찰할 뿐만 아니라 사전 처리 없이 절연물과 물 함유, 기름 함유 샘플을 관찰할 수 있다.2차 전자상과 백산란 전자상 사이를 빠르게 전환할 수 있다.

||고감도 저진공 2차 전자 검측기

고감도 저진공 2차 전자 검측기 를 채택 하다(UVD). 전자선과 잔류가스 분자 간의 충돌로 발생하는 빛을 감지해 2차 전자정보가 담긴 이미지를 관찰할 수 있다.또한 이 검측기를 제어하여 전자의 조사로 발생하는 빛을 검측하여 얻을 수 있다CL정보 (UVD-CL: 포함CL정보의 이미지).

||가속 전압 지원20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II가속 전압 지원20 kV。

의거EDS분석 (옵션) 은 더 높은 계수 해석을 제공합니다.

||가속 전압 통과20 kV, 구현EDS요소 분포도 높이S/N화

||Multi Zigzag(옵션)

현재 광역 범위 내에서 실행 가능SEM관찰하다.

자동모터대를 배합하면 저배율, 고정밀도, 넓은 범위의 관찰분석을 실현할수 있다.

||EM샘플 테이블 (옵션)

||간편한 관찰 STEM이미지

새롭게 개발된STEM샘플대 및 고감도 저진공 2차 전자 검출기(UVD)소배율을 쉽게 볼 수 있도록 함께 사용STEM이미지.

박막 샘플과 생물 샘플을 쉽게 관찰할 수 있다.

||제품 사양: