HAST 고압 가속 수명 시험함

HAST 고압 가속 수명 시험함*주로 반도체 패키지의 습기 능력을 테스트하고, 측정을 기다리는 제품은 가혹한 온도, 습도 및 압력에 의해 테스트되며, 습기는 젤라틴 또는 젤라틴과 도선틀의 인터페이스를 따라 패키지에 스며들며, 흔히 볼 수 있는 고장 방식은 능동 금속화 구역의 부식으로 인한 차단, 또는 패키지체 인발 사이에 오염으로 인한 단락 등이다.PCTZ는 주로 반도체 패키지의 습기 능력을 테스트하는 것으로, 측정을 기다리는 제품은 가혹한 온도, 습도 및 압력에 의해 테스트되며, 습기는 교체 또는 교체와 도선틀의 인터페이스를 따라 패키지에 스며든다.

◆ 진공펌프 설계(보일러 내 공기 추출)로 압력 안정성, 재현성을 높인다.

◆ 초장효 실험 가동 시간, 장시간 실험 기계대 300시간 가동;

◆ 건조설계, 시험종료 채진공 건조설계는 시험구역(대기측정품)의 건조를 확보한다.

◆ 수위 보호, 난로 내 수위 Sensor를 통해 보호 탐지;

◆ 내압 설계, 상자 내압력 (140 ℃) 2.65kg, 수압 테스트 6k에 부합;

◆ 2단식 압력 안전 보호 장치, 2단식 결합 컨트롤러와 기계식 압력 보호 장치를 채취한다;

◆ 안전 보호 배압 버튼, 경보 안전 장치 2단식 자동 배압 버튼;

HAST 고압 가속 수명 시험함*