듀얼 채널 테라헤르츠 대역 분광기

소개

다기능 PB7220-2000-T/R 테라헤르츠 대역 분석 스펙트럼 플랫폼은 복잡한 화합물을 정확하게 스캔하기 위해 설계되었으며 더 높은 정밀도와 제어 능력을 갖추고 있습니다.PB7220 테라헤르츠 대역 분석 분광기는 THz 연구원과 애플리케이션 개발자가 고해상도로 테라헤르츠 주파수에서의 재료 특성을 연구해야 할 때 이상적입니다.100GHz에서 1.8THz 이상의 단일 고속 스캔으로 0.25GHz 이상의 주파수 해상도를 제공합니다.두 개의 채널이 있으므로 시료의 테라헤르츠 투과와 반사 특성을 동시에 측정할 수 있습니다.두 번째 채널에서는 단일 시스템이 서로 다른 반사 또는 산란 각도로 샘플에서 정보를 수집하고 연속적으로 전송을 모니터링할 수 있습니다.

PB7220 테라헤르츠 주파수 분석 분광기는 정확한 조화의 광섬유 결합 나비형 패키징 반도체 DFB 레이저, 첨단 광 혼합 광원 및 검출기 및 첨단 디지털 제어 하드웨어 및 소프트웨어를 사용하여 완전한 THz 원터치 부팅 분광기를 제공합니다.광 혼합 소스의 고효율 CW 특성은 모든 THz 출력을 관심 주파수 범위에 두고 최대 70dB Hz의 스캔 범위 내에서 뛰어난 동적 범위를 제공합니다.

광섬유 결합 광원과 탐지기 프로브는 플랫폼에 설치되어 투과와 반사 측정을 동시에 진행한다.또한 확장된 광 케이블과 함께 분리하여 보다 광범위한 응용 프로그램에서 측정 유연성을 높일 수 있습니다.

적용

• 재료 및 부품 증명
• 화학/생물 물품 검사
• 산업 프로세스 모니터링
• 마이크로웨이브 및 테라헤르츠 스펙트럼

피쳐

• 테라헤르츠 투과와 반사 측정을 동시에 수행하는 이중 채널 시스템 구성
• 완전 키 교환 시스템
• 비용 효율적: 이전 테라헤르츠 시스템 비용의 일부
• 휴대용: 최장 12시간 동안 사용할 수 있는 내장형 리튬 이온 배터리
• 100GHz에서 1.8THz 이상으로 연속 고속 스캔
• 옵티컬 결합 테라헤르츠 소스 및 탐지기 프로브
• 각 채널에 대해 별도의 프로브 제공
• 실온 고체 검사: 저온 불필요
• OEM 모델 제공

성능

매개변수