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이중 빔 전자 현미경

협상 가능업데이트03/17
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
DualBeam 현미경 SciosDualBeamThermoScientificSciosDualBeam은 뛰어난 2D 및 3D 성능으로 자성 재료를 포함한 많은 샘플을 분석 할 수있는 고해상도 DualBeam 분석 시스템입니다.
제품 정보

DualBeam현미경

Scios DualBeam

Thermo Scientific™ Scios™ DualBeam™고해상도입니다.DualBeam분석 시스템, 뛰어난2D3D성능 분석 자성 재료를 포함한 많은 샘플.Scios DualBeam혁신적인 기능은 대학, 정부 및 산업 연구 환경의 고급 연구 및 분석에 적합하도록 설계되었으며 전체 용량, 정밀도 및 사용 편의성을 향상시킵니다.

고급 검사 기술은Thermo Scientific™ Scios DualBeam의 핵심 기술.렌즈 안FEI Trinity™검측 기술은 모든 신호를 동시에 수집할 수 있어 시간을 절약할 수 있을 뿐만 아니라 선명한 대비도를 형성할 수 있어 가능한 한 많은 데이터를 수집하는 데 도움이 된다.혁신적인 렌즈 아래 동심 후 산란 검출기는 효율을 높여 신호의 각 분포에 따라 신호를 선택할 수 있어 착륙 에너지가20 eV마찬가지다.

Scios DualBeam의 재료 과학 응용

Scios DualBeam금속, 복합, 코팅과 같은 다양한 재료에 특히 적합하며 다음을 수행할 수 있습니다.

  • 자기 샘플에 대한 고해상도, 고대비 이미징 수행

  • 사용Trinity검사 키트는 재료, 형태 및 가장자리 대비를 동시에 검사하여 재료의 다양한 속성을 분석합니다.

  • 표류 억제 광각으로 시료를 제조하지 않고도 위치 특이성을 가진 절편을 제작할 수 있으며, 심지어 비전도 재료를 조작할 수 있다

  • 3차원 데이터 입방체를 생성하여 금속에 섞인 물건의 크기와 분포를 확정하거나 균열의 첨단 각 방향의 응력과 응변을 분석한다

  • 코디EasyLift™고품질 샘플을 빠르고 안정적으로 제조할 수 있으며 최소한의 전자빔 에너지만으로 고품질의S/TEM결과

  • 대상DealBeam 일반 어플리케이션은 고유한 사용자 가이드 및 단계별 워크플로우를 제공하여 모든 숙련된 작업자가 즉시 사용 가능

  • https://www.fei.com/uploadedImages/FEISite/Pages/Products/DualBeam/Scios/Models/Scios2_ApplicationImage.jpg?n=9114