XRF6 에너지 색산 x선 형광 분광기

XRF6 에너지 색산 x선 형광 분광기금, 백금, 은 액세서리 중 금, 은, 백금, 팔라듐, 구리, 아연, 니켈, 이리듐 등 원소 함량을 정확하게 측정하여 정의에 따라 국표 GB/T18043의 요구에 부합하는 테스트 결과를 제시한다.

정량 분석
A, FP 기초 매개변수법
B，표준법
C，1시 보정

특징:

· 수입 고해상도 탐지기 채택

· 정확: 분석 정밀도가 높고 안심하고 안심할 수 있는 검사 결과.

· 신속: 샘플에 대한 특별한 요구 사항이 없으며 직접 테스트 할 수 있으며 일반적으로 60-100S 사이에서 액세서리에 함유 된 금, 은, 백금, 팔라듐, 구리, 아연, 니켈, 이리듐의 함량을 확인할 수 있습니다.

· 단순성: 완벽한 자동화 테스트 기능은 진정한 원클릭 조작을 실현하며, 어떠한 형식의 교육도 필요 없고, 즉시 사용할 수 있다.

· 무손상: 비파괴적인 무손상 액세서리 검사.

· 경제: 액세서리를 직접 테스트하여 소모품이 필요 없고 원가를 절약한다.

· 안전: 광 브레이크 시스템은 X선 연결 잠금 안전 장치와 상호작용하여 인원의 안전을 확보한다.

· 표준: 테스트 결과는 국가 표준 GB/T 18043-2013의 정밀도 요구에 완전히 부합한다.

XRF6 에너지 색산 x선 형광 분광기주요 기술 지표
분석 원리 에너지 색산 X선 형광 분석법
분석 요소 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br 고정밀도형)
Na~U(선택사항:1.2mm/0.1mm 전환 방식형)
최소 Cd/Pb/Hg/Br/Cr ≤ 5ppm 체크 아웃
샘플 모양 큰 460 × 380mm (높이 150mm)
시료 플라스틱/금속/종이/도료/잉크/액체
견본실 분위기 대기
엑스선관 표적 Rh
파이프 전압 50KV
파이프 전류 1mA 크기
엑스선 조사경 1/3/5mm
보호 <0.1mR/Hr(컴퓨터 화면보다 방사능이 낮음)
검출기 실리콘 SIPIN 탐지기
광학 영상 관찰 배율 15배
소프트웨어 정성 분석: 자동 정성(자동 배경 제거 / 자동 박리 중첩봉 / 자동 보상 도주봉 / 자동 보상 스펙트럼 표류)
조사경: 1/3/5mm
정량분석: 기초매개변수법/표준법/1점 교정
컴퓨터 CPU PentiumIV 1.8GHz 이상
메모리 256MB 이상
하드 드라이브 20GB 이상
운영 체제 WindowXP
모니터 17인치 LCD
주변 온도는 10~35이다.C (성능 온도) / 5~40.C(동작 온도)
주위의 습도는 5~31이다.C시 온도 범위: 큰 상대 습도 80% 이하
31～40。C시 온도 범위: 상대 습도 50% 이하
전원 공급 장치 AC110V/220V±10%, 50/60HZ
소비 전력 1.3KVA 이하(컴퓨터, LCD, 프린터 포함)
장치 무게 약 65kg(책상, 컴퓨터 제외)
외형 인치법 600(W)×545(D)×435(H)mm

애프터서비스

• 무료 방문 설치: 예
• 보증 기간: 1년
• 무상수리 기간 연장 가능 여부: 예
• 보증 내 수리 약속: 무료 수리 교체 부품
• 수리 약속: 24시간 이내 응답
• 무료 기기 관리: 정기적인 방문
• 무료 교육: 모델 1 명 무료 북경 교육
• 현장 기술 자문: 지원