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ybzhan>제품

XAU-X 형광 스펙트럼 분석기, 도금 두께 측정기, 필름 두께 측정기

협상 가능업데이트02/16
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
XAURoHS 분석 유해 요소 검출
제품 정보

XAU는

RoHS 분석

유해원소 검출,RoHS (As, Pb, Hg, Cd, Cr, Br)卤素

도금층 검측

옵션

EFP 알고리즘

표준

소프트웨어 작업

인성화된 폐쇄 소프트웨어, 자동 판단 고장 알림 교정 및 조작 절차, 오작동 방지

탐지기

Si-Pin 반도체 탐지기

엑스선 장치

마이크로포커스선관

정직기

Φ5mm의

미광 초점 기술

최근 거리 측정 반점 확산도 10%

필터

내장형 멀티필터 스위칭 장치 통합

샘플 관측

1/2.7"컬러 CCD, 줌 기능

초점 방식

고감도 렌즈, 수동 초점

배수 확대

광학38-46X,숫자 40-200배 확대

계기 크기

470mm * 550mm * 480mm

샘플 캐비티 높이

215mm의

샘플대 이동

없음

계기 무게

45KG의

추가 첨부

컴퓨터 세트, 프린터, 액세서리 상자,RoHS 표준 슬라이스

엑스선 표준

DIN ISO 3497, DIN 50987 및 ASTM B 568

1. 제품의 장점:

XAU는 RoHS, 할로겐 검출 분석을 위해 개발된 고통합 스펙트럼 분석기입니다.

각종 제품의 품질 관리 통제, 원료 검사 및 생산 공정 통제에 대한 측정 사용에 광범위하게 사용된다;

1. 조립Si-PIN 반도체 탐지기, 탐지 범위 및 정밀도 크게 향상

2.인성화된 폐쇄 소프트웨어, 자동 판단 고장 제시 교정 및 조작 절차, 오작동을 피한다;

3. RoHS、할로겐 유해원소 검출, 최소 검출 한도는 2ppm까지;

4. 미광 집적 기술을 장착하여 최근 측정 거리 반점의 확산도가 작다10%

5.고선명 카메라 포지셔닝 시스템을 사용하여 샘플 관찰이 명확하고 포지셔닝이 정확하다;

6. 핵심 부품의 높은 집적 모듈화 설계, 구조가 치밀하고 상호 전자기 간섭을 피하며 기기의 검출 제한을 높이고 기기의 고장률을 낮춘다;

7.하조식 설계, 샘플 측정이 빠르다;

8. 원키RoHS 검사, 재료 범주 자동 식별 및 자동 일치 프로그램, 원클릭 분석