환영 고객!

회원

도움말

동관시경성시험설비유한공사
주문 제조자

주요 제품:

ybzhan>제품

동관시경성시험설비유한공사

  • 이메일

    13826958603@139.com

  • 전화

    13826958603

  • 주소

    동관시 동성구 상원석정공업구 홍태과학기술원

지금 연락

초고속 고저온 기류 충격 시험기

협상 가능업데이트12/22
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
초고속 고저온 기류 충격 시험기는 각종 플래시 플래시/EMMC, PCB 회로기판 IC, 광통신 (예를 들어 트랜시버 transceiver 고저온 테스트, SFP 광모듈 고저온 테스트 등), 반도체 칩, 전자 업계 등에서 IC 특성 분석, 온도 충격 테스트, 고저온 순환 테스트 실효 분석 등 신뢰성 시험을 진행한다.
제품 정보

초고속 고저온 기류 충격 시험기기술 매개 변수:

폼 팩터: W(가로) 660mm*H(두께) 1120mm*D(세로) 1040mm

온도 범위: -80 ℃ ~ +250 ℃

제어 정밀도: ± 0.5 ℃

충격 공기 흐름: 4~18SCFM(1.8~8.5L/S)

충격 속도: -55도 +125도, 회복 시간10S

초고속 고저온 기류 충격 시험기제어 시스템

1.15인치 초대형 휴먼 컴퓨터 인터페이스

2.USB, LAN 지원으로 휴대폰 원격 조종 가능

3.두 가지 검사 모드: AIR NODE 및 DUT MODE

4.실행 모드

1) 핸드헬드: 수동 전환/자동 순환.

2) 프로그램: 수동 전환/자동 순환.

초고속 고저온 기류 충격 시험기작동 방식:

1. 시험기 출력 기류 덮개는 시험품에 덮여 비교적 밀폐된 공간의 시험강을 형성하고, 시험기가 출력하는 고온 또는 저온 기류는 피시험품 표면 온도에 격렬한 변화를 일으켜 상응하는 고저온 충격 시험을 완성한다;

2. 여러 다원화된 부품 중 어느 한 개의 IC 또는 기타 부품에 대해 이를 격리하여 주변의 다른 부품에 영향을 주지 않고 단독으로 고저온 충격을 진행할 수 있으며, 전통적인 냉열 충격 시험함에 비해 온도 변화 충격 속도가 더 빠르다

초고속 고저온 기류 충격 시험기시험 기준 충족:

1.GB/T 2423.1-2008 시험 A: 저온 시험 방법;

2.GB/T 2423.2-2008 시험 B: 고온 시험 방법;

3. GB/T2423.22-2012 시험 N: 온도 변화 시험 방법

4. GJB/150.3-2009 고온시험

5. GJB/150.4-2009 저온 시험

6. GJB/150.5-2009 온도충격시험

초고속 고저온 기류 충격 시험기작업 모드:

A) 2번 메인 공기 파이프 출력, 분포 헤드에서 8번 공기 공급, 1 견인 8 시스템 2세트

B) 2가지 테스트 모드 Air Mode 및 DUT Mode

고온/상온/저온에 테스트 및 순환 (또는 상온을 사용하지 않음)

초고속 고저온 기류 충격 시험기다중 장치 중 하나에 대해 사용 가능IC 또는 기타 컴포넌트주변 다른 부품에 영향을 주지 않고 격리하여 단독으로 고저온 충격을 주다, 전통적인 냉열 충격 시험함에 비해 온도 변화 충격 속도가 더 빠르다

온도가 제어되는 압축기 공기를 공기 주둥이에서 분사하는 것으로, 불과 수초 만에 온도 시험에 필요한 환경에 도달할 수 있으며, 일반적인 고저온 충격 시험함과 비교할 때 시험 시간을 크게 단축하고 생산 효율을 높일 수 있다.