TDH 시리즈 3단 부품 전용 프로브 FET 테스트 TFT 테스트

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개요

제품 소개: 실제 과학 연구에서 샘플/웨이퍼 (Wafer) 의 크기가 점점 커지고 테스트에 사용되는 탐침대가 상당히 비싸기 때문에, 우리 회사는 고객 시장 응용에 근거하여 자체 개발한 이 구조는 작고 기능이 실용적이며, 원가가 비교적 낮은 TDH 계열 탐침대, 기본 테스트 기능을 만족시키는 기초에서 불필요한 부품을 제거했다. 이 탐침대 시스템은 광학 영상 부분, 광학 받침대, 탐침, 진공 시스템 등 4비트 시스템을 포함한다.

제품 정보

제품 정보:
실제 과학 연구에서 샘플/웨이퍼 (Wafer) 의 크기가 점점 커지고 테스트에 사용되는 탐침대는 상당히 비싸다. 당사는 고객 시장 응용에 따라 자체 개발한 이 구조는 작고 기능이 실용적이며 원가가 비교적 낮은 TDH 시리즈 탐침대이다. 기본 테스트 기능을 만족시키는 기초 위에서 불필요한 부품을 제거했다. 이 탐침대 시스템은 광학 영상 부분, 광학 받침대, 4차원 흡착 시스템, 진공 조정 시스템을 포함한다.

TDH시리즈 탐침대에는 독립된 세 개의 정밀 탐침 받침대가 포함되어 있으며, 디지털 소스 계량기 등과 함께 삼단 부품에 대한 테스트를 완료할 수 있으며, 테스트할 수 있는 재료는 다이오드, 트랜지스터, 필드 효과관, 웨이퍼급 부품 등등으로, 그의 I/V, c/v, 저항, 커패시터 등 매개변수에 대한 테스트를 완료할 수 있다.

제품 특징:

★ 컴팩트한 구성, 실용적인 기능, 가벼운 품질, 이동성

★ 최대 12인치 이내 샘플 테스트에 사용 가능

★ 360 ° 회전 및 미세 조정 가능한 고배율 전자 현미경과 호환

★ 누전류 정밀도: 10pA/50fa(차폐함 안)

★ 정밀 철봉/제비 꼬리 전동 구조, 선형 이동, 정밀 변위, 회전차 없는 설계

★ 대학교/연구소/회사 실험실에 적용

★ 1마이크로미터 이상 전극/PAD 사용

★ 모듈식 설계, 응용에 따라 해당 모듈 추가 및 제거 가능

제품 적용:

◆ LD/LED/PD의 광강도/파장 테스트(우리 회사 광전기기 통합)

◆ 소재/부품의 IV/CV 등 특성 분석 테스트

◆ 웨이퍼 분석 테스트

기술 매개변수 옵션:

사양 / 매개 변수
모델		TDH-4	TDH-6		TDH-8		TDH-12
폼 팩터 크기(LWH)		450×300×355mm	600×450×355mm		600×500×355mm		600×600×355mm
전력 수요		220VC,50-60HZ
견본대	치수	4인치	6인치		8인치		12인치
	여정	전체 XYZR 4차원 변위, XY 스트로크 100mm, Z축 스트로크 13mm, R축 360° 회전 잠금 가능
	이동 정밀도	3μm
	백전극 테스트 기능	전극을 끌어낼 수 있다	전극을 끌어낼 수 있다		전극을 끌어낼 수 있다		전극을 끌어낼 수 있다
	사용자 정의 모듈	변위 스트로크 및 정밀도 사용자 정의 가능
프로브 조정좌리	XYZ 일정	13mm-13mm-13mm
	기계정밀도	표준 3μm(업그레이드 가능/1μm)
	누전 정밀도	100fA(차폐함 구성)
	설치 방법	조절식 자력 흡착 / 진공 흡착
	인터페이스 형식	삼동축(Triax)
광학 영상	배수 확대	7-200배 (최대 720배로 업그레이드 가능)
	CCD 픽셀	2000W
	중심 거리	140mm，승강 범위 270mm, 총 높이 350mm
	모니터	3-17mm의 샘플을 전체 화면으로 확대한 12인치 모니터(대형 현미경 업그레이드 가능)
옵션 액세서리		가열 카드판		고저온 카드		도금 카드판
		방진 브래킷		포인트 볼 테스트 옵션		차폐함
		무선 주파수 테스트 액세서리		라이트 브래킷 가져오기		파장 단색 조정 가능 광섬유 광원 (측광 전류)
		현미경 조절 수동/전동 조절장치		레이저 절단 현미경		로터 부품
스펙트럼 분석 기기는 고객의 응용에 근거하여 더 나은 결과를 얻기 위해 탐침대를 구축할 수 있다의사용 효과와 성가비

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