반도체 검측 현미경

P 시리즈 현미경 - 완벽한 광학 시스템과 차세대 광학 기술을 갖추고 있으며 명장, 암장, 편광, 미분 간섭(DIC) 등 다양한 관찰 방식을 내장하고 있다.편광은 재료의 텍스쳐와 결정 모양을 표시하는 데 사용됩니다.칩과LCD구조；미분 간섭차(DIC)미세한 관찰 지원높이 차이 샘플, 이 기술은 헤드, 하드 드라이브 매체, 광택 웨이퍼 등 매우 작은 고도차를 가진 샘플을 검사하는 데 매우 적합하다;비밀 장소는표본의 미세한 스크래치나 결함 및 웨이퍼 등 거울 샘플을 검사하는 데 이상적인 도구입니다.

PA53MET

현미경 시스템은 인체공학적으로 사용하기 쉬운 디자인으로 최대한의 기능을 제공합니다. 300mm웨이퍼, 평면 패널, 인쇄 회로 기판,그리고 기타 대형 샘플의 고품질 관찰.이 제품은 유연한 모듈 설계로 다양한 검사 용도에 적합한 최적의 관찰 시스템을 제공할 수 있다.

Panthera TEC

통하다지나가다및화현광학EOC 이미지 분석 소프트웨어 결합,작업자가 필요한 이미지와 제품 검사를 쉽게 수행할 수 있도록 합니다.샘플을 미시적으로 볼 수 있을 뿐만 아니라찰, 2차원 3차원 등 정확한 데이터 측정도 할 수 있다，관찰에서 보고서 생성에 이르는 전반적인 검사 과정은 간단하고 매끄럽게 진행됩니다.광범위하게 적용 가능반도체, 섬유, 재료과학, 의료, 신에너지, 전자 등 업종에서

HXJ-MX6R