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액체 슬롯 침전식 온도 충격 시험상자

협상 가능업데이트01/04
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
액체 슬롯 침착식 온도 충격 시험상자는 신에너지, 기기, 계기, 전기공, 전자제품 완제품 및 부품 등의 온도가 빠르게 변화하는 조건에서 반복적으로 열팽창과 냉축으로 산출된 화학 변화 또는 물리적 상해에 저항하여 제품의 품질을 확인할 수 있으며, 정밀한 IC에서 중기계에 이르는 그룹은 모두 그의 이상적인 테스트 도구를 필요로 하지 않는다.
제품 정보

액체 슬롯 침전식 온도 충격 시험상자용도:

국방공업, 항공공업, 병공업, 자동화부품, 자동차부품, 전자전기계기부품, 전기공업제품, 플라스틱, 화학공업, 식품업, BGA, PCB기방아쇠, 전자칩IC, 반도체도자기제약공업 및 관련 제품 등 설비의 주위대기온도의 급격한 변화조건에서의 적응성시험(충격), 신에너지, 계기, 전기공업, 전자제품 완제품 완제품 및 이상적인 기계부품의 정밀한 변화로부터 정밀한 변화까지 IC의 정밀한 변화로부터 정밀한 변화조건을 확인하는데 적합하며 정밀화학부품의 요구사항으로부터 정밀한 변화로부터 정밀한 변화로부터


액체 슬롯 침전식 냉온도 충격 시험상자기준 충족:

GJB150.5-86 온도 충격 시험

GJB360.7-87 온도 충격 시험

GJB150.4-86 저온 시험상자 시험방법

GJB150.3-86 고온 시험상자 시험방법

IEC68-2-14 시험 N: 온도 변화

GB2423.1-89 전기전자제품 기본시험규정시험 A: 저온시험방법

GB 2423-22 환경 시험 섹션 2: 시험 방법 시험 N: 온도 변화

MIL-STD-202F 미군 표준,전자 및 전기 시험 방법

MIL-STD-883E 미군 표준,집적회로 실효 분석 방법


주요 매개변수

n온도 노출 범위: +60 ℃ ~ +150 ℃ / -65 ℃ ~ 0 ℃

n테스트 시간≥10분

n온도 변환 시간: ≥ 30S

n테스트 방식: 시료를 서로 다른 온도의 액체 매체에 넣다

모델

ZT-CTH-27C는

ZT-CTH-56C는

패턴

액체 매체욕에 담그고, 샘플 바구니의 이동을 통해 저온 또는 고온 슬롯에 도달한다

시험 샘플 크기 (mm)

130×160×130 【W*H*D】

160×160×220 【W*H*D】

예냉 온도 범위

-70℃~0℃

예열 온도 범위

+60℃~+200℃

온도 충격 범위

-40℃~+150℃/-65℃~+150℃

테스트 시간

≥10 분

≥10 분

변환 이동 시간

≤30s

온도 편차

±1.0℃

온도 파동도

±0.5℃

전원 공급 장치 사용

AC 3¢5W 380V 60/50Hz