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측금기

협상 가능업데이트01/09
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
XRF-Met1형 스펙트럼 측정기는 신형 Si-PIN 탐지기를 탑재하여 금과 합금의 순도와 성분을 빠르고 손상되지 않고 정확하게 정성 정량 분석하여 회수 과정의 정확성을 확보하고 회수 업체가 오판으로 인한 경제적 손실을 방지하며 회수 과정의 효율과 수익성을 높일 수 있다.
제품 정보

제품 소개:

XRF-Met1 스펙트럼측금기금 회수 업계를 위한 맞춤형 정밀 검사 장비로, 이 제품은 신형 Si-PIN 탐지기를 탑재하여 금과 합금의 순도와 성분을 신속하고 무손실 및 정확하게 정량 분석하여 회수 과정의 정확성을 확보하고, 회수 업체가 오판으로 인한 경제적 손실을 방지하며, 회수 과정의 효율과 수익성을 향상시킬 수 있다.또한 사용자 친화적인 조작 인터페이스를 갖추고 있어 초보자라도 신속하게 검사 절차를 간소화할 수 있다.그 고정밀도의 검측 결과는 금 회수상에게 신뢰할 수 있는 품질 보증을 제공하는 동시에 매매 쌍방에게 투명한 거래 근거를 제공한다.
측정기 제품 특징:
1.무손상 검측: 샘플에 대한 사전 처리 없이 간단하고 편리하며 신속하게 귀중한 금속의 무손상 검측을 실현합니다.
2.정확하고 빠르다: 수십 초 만에 안정적인 결과를 얻을 수 있으며, 귀금속 성분은 빠르게 감정하여 금을 회수하기 위해 정가 거래를 현금으로 바꿀 수 있다.

3.고정밀 검사: XRF 기술은 99.99와 99.9 함량의 금을 정확하게 구분 할 수있는 신뢰할 수있는 순도 및 성분 데이터를 제공합니다.
4.전-방위 안전 보호 체계: 노란색 등이 고주파 깜박임, 뚜껑을 잘못 열지 않도록 주의한다;뚜껑을 여는 순간 고압이 자동으로 차단되는 자동 단전 보호 메커니즘;고압이 켜졌을 때 뚜껑이 모두 닫히지 않아 버저를 지속적으로 경보하여 사용자에게 주의를 주었다.전체 금속으로 섀시를 폐쇄하여 유출 위험을 방지합니다.
5. 샘플 유연성: 다양한 형태의 샘플과 샘플의 작은 부품을 쉽게 측정할 수 있습니다.
6.원클릭 테스트 버튼:"샘플 배치-덮개 닫기-원클릭 테스트-결과 보기"는 조작이 간단하고 기술자가 아니어도 스스로 검사할 수 있다.

7.역사 도감 분석: 역사 도감과 대비 도감을 열어 서로 다른 시기의 샘플 도감을 분석할 수 있도록 지원한다.

기술 매개 변수:

탐지기 Si-Pin 탐지기
다중 채널 분석기 디지털 다중 채널
샘플 형태 테스트 고체, 분말, 액체
측정 시간 10sec~180sec(임의 조정 가능)
요소 분석 범위 금 Au 실버 Ag 백금 Pt 팔라듐 Pd 铼 Re 이리듐 Ir 텅스텐 W 구리 Cu 아연 Zn 철 Fe 니켈 Ni 인듐 In 코발트 Co 카드뮴 Cd 로듐 Rh 납 Pb 주석 Sn 망간 Mn 크롬 Cr Ru Ru 오스뮴 Os 등 72 원소
분석 범위 0.1%~99.99%
측정 정밀도 ±0.05%
광관 전압 0-50kV
광관관류 0uA-1000uA
카메라 HD 카메라
해상도 175ev±5ev
정직기 5mm의
알고리즘 보정 곡선법, 기본 매개변수법(FP법) 등 XRF 분석 방법을 융합해 배경 차이를 없애고 분석 오차를 줄여 검사 정확도를 높였다!
데스크탑 컴퓨터 I5 듀얼 코어 + Win10
소프트웨어 언어 중/영문 자주 전환
주변 온도 5~30℃
상대 습도 ≤85%
정격 출력 75W
전원 요구 사항 AC 220V ± 5V/50Hz, 근처에 고출력 전자기 및 진동 간섭 소스 없음
샘플 캐비티 크기 264mm * 256mm * 85mm
외부 치수 370mm * 368mm * 335mm
호스트 순 중량 18.9kg의

测金仪