아동 지능 테스트 기기

아동 지능 검사 기기의 주요 기능은 0~16세 아동의 지능 지수를 검사하는 것이다.

평가 방법: 1. 덴버 스마트 테스트 (DDST): 0--6세 영유아에게 지능 테스트를 할 수 있다.

2. 사진 어휘 테스트 (PPVT): 3세 반에서 9세 2개월의 어린이에게 지능을 실시한다.평가

3. 화인지능테스트 (MOD): 4--12세 어린이의 지능지수의 성숙정도를 테스트한다.

4. 연합형 서문고 테스트 (CRT-C3): 2007년 새로운 수정 버전.

도시는 6세 7개월-16세 6개월

비도시는 6세 7개월-14세 6개월

5. 계기는 또 WHO가 통용하는 50여종의 지력검사방법이 있다

아동 지능 검사기 테스트 시간

DDST 테스트 시간은 일반적으로 10 ~ 30분입니다.

PPVT는 테스트 대상 아동의 실제 연령에 따라 정해지며 보통 길이는 20분입니다.

MOD 퀴즈의 표준 시간은 20분이며 어린이는 대부분 10분 이내에 완료됩니다.

CRT-C3 테스트 표준시간은 20~40분이며 대부분의 어린이는 20분 이내에 완료할 수 있다

어린이 지능 검사기 표준 구성:

A형 기기: 소프트웨어 패키지: (덴버 스마트 테스트, 사진 어휘 테스트, 회인 스마트 테스트, 연합형 서문 원고 테스트 포함), 대차, 음향 설비, 카메라 설비, 브랜드 컴퓨터 세트 (컴퓨터, 터치식 액정 모니터, 프린터 포함)

만약 당신이 어린이 지능 테스트 기기의 기능을 구체적으로 이해해야 한다면, 전화로 문의하세요!