광호천 쾌속온변시험함 정식으로 모 칩제조기업에 교부

일전, 광동 호천검측기기유한회사가 자주적으로 연구개발한 맞춤화급속 온도 변화 시험상자정식으로 국내 모 헤드칩제조업체에 인도되면 설비는 직접 차규급과 공업급 칩의 양산검측환절에 투입하여 칩의 신뢰성에 핵심보장을 제공하게 되는데 이는 광호천이 반도체검측설비분야에서의 맞춤화능력을 다시 인정받았음을 표징한다.

칩이 높은 집적도, 광온역 방향으로 발전함에 따라 온도 환경이 성능에 미치는 영향은 더욱 현저하다.이번에 인도된 시험상자는 이 기업의 수요에 맞추어 다중 기술 업그레이드를 실현하고, 이중 압축 냉방 시스템과 고효율 가열 모듈을 탑재하여 온도 변속률이 20 ℃ /min에 달하고, 온도 제어 정밀도 ± 0.3 ℃ 로 -55 ℃ 에서 150 ℃ 의 온도 변화 장면을 정확하게 시뮬레이션할 수 있으며, 자동차 시동, 공업 환경 전환 중 칩의 온도 파동 작업 상황을 재현할 수 있다.

비응축수 간섭은 이 설비의 핵심 하이라이트이다."예비제습 + 동적제습"이중급시스템을 채용하여 습도파동을 ± 1.5% RH이내로 통제하여 응축수가 칩의 정밀회로에 대한 침식을 원천적으로 피면함으로써 전통설비의 시험통점을 해결하였다.설비는 또 300조의 프로그람예비설정을 지원하여 연구개발검증으로부터 양산표본검사에 이르는 전반 과정의 테스트에 적합하며 칩의 조기실효제거률을 30% 이상 제고시킬수 있다.

"이 설비는 3개월간의 가혹한 시용을 거쳐 데이터의 중복성과 장기적인 안정성이 우리의 표준에 부합된다."이 칩기업의 검측책임자는 시험상자는 칩의 포장결함, 용접점의 허접 등 문제를 능률적으로 폭로하여 제품이 AEC-Q100 등 업종표준에 부합되도록 관건적인 버팀목을 제공한다고 밝혔다.