1. 필요한 전원 공급 장치의 용량이 크게 줄어듭니다.XB-f 시리즈 직렬 공명 시험 장치는 공명 저항기와 피시품 커패시터를 이용하여 공명을 발생시켜 필요한 고전압과 큰 전류를 얻는 것으로, 전체 시스템에서 전원은 시스템에서 유효하게 소모되는 부분만 제공하기 때문에 시험에 필요한 전원 출력은 시험 용량의 1/Q배 (Q는 품질 요소) 에 불과하다.

2. 설비의 무게와 부피가 크게 줄어든다.직렬 공명 전원 중 육중한 고출력 압력 조절 장치와 일반적인 고출력 작업 주파수 시험 변압기를 절약할 수 있을 뿐만 아니라, 공명 격자 전원은 시험 용량의 1/Q만 있으면 시스템 무게와 부피를 크게 줄일 수 있으며, 일반적으로 일반 시험 장치의 1/5~1/10이다.

3. 출력 전압 파형을 개선한다.공명 전원은 공명식 필터 회로로 출력 전압의 파형 기변을 개선하고 좋은 정현파를 얻을 수 있어 공파 피크로 인한 피시품에 대한 오타를 효과적으로 방지할 수 있다.

4.큰 단락 전류 화상 고장점을 방지합니다.공명 상태에서는 피시품의 절연 약점이 뚫렸을 때 회로가 즉시 탈조(전기 용량 변화, 공명 조건 미충족)되고 회로 전류는 정상 시험 전류의 1/Q로 급속히 하강한다. 병렬 공명 또는 전통적인 시험 변압기 방식으로 교류 내압 시험을 할 때 뚫기 전류는 즉시 수십 배 상승한다. 이에 비해 단락 전류는 뚫기 전류와 수백 배 차이가 난다.그러므로 직렬공명은 절연약점을 효과적으로 찾을수 있으며 또 큰 단락전류화상고장점의 우환도 존재하지 않는다.