형익 동적 커브 테스트 장비 실행 GB/T 17554.1-2025는 새로 발표 된 카드 및 ID 보안 장비 테스트 방법 국가 표준으로 양방향 비틀림 테스트를 수행합니다.2025 년 9 월 1 일에 2006 버전 표준을 대체하기 위해 공식적으로 시행 될 예정입니다.

본 기기의 목적성 IC카드는 국가표준 GB/T16649.1, GB/T 17554.1-2025 국가표준 GB/T-17554.1-2006 및 ISO10373 및 ISO7816-1998 국제표준 등 시험표준에서의 굴곡, 토크의 시험;이상의 표준에 부합되며 마그네틱 카드, IC 칩 카드, 스마트 카드, 교통 카드, 의료 카드, 사회 보험 카드, 집적 회로 카드 등 카드의 굴곡 및 왜곡 성능 테스트를 검사하는 데 사용됩니다.

형익 동적 굴곡 테스트 장비 테스트의 목적은 카드 테스트 샘플에 반복적으로 왜곡 응력을 가하기 때문에 발생하는 모든 불리한 기계적 또는 기능적 영향을 확인하는 것이다.

형익 동적 커브 테스트 장비 테스트 원리: 샘플 카드를 형익 동적 커브 왜곡 시험기의 집게 사이에 놓고, 포지셔닝은 커브 주위 축 A, 노카에 접점이 있으면 먼저 접점을 위에 놓아야 한다.기본 표준으로 설정된 전체 벤드 수의 4분의 1을 지정하고 이러한 숫자를 지정하지 않으면 250번의 벤드, 재지정 카드를 사용하여 카드의 다른 면이 위에 위치하도록 하지만 벤드는 여전히 축 A. 주위를 이전과 같은 횟수의 벤드를 사용합니다.

카드를 재정의하고 시험기를 재설정하여 카드의 원래 면을 위로 향하게 하지만 축 B를 중심으로 구부려 카드에 접점이 있으면 이 면, 즉 접점이 위에 있어야 합니다.카드를 재정의하여 카드의 다른 면이 위에 놓이게 하지만 벤드는 여전히 축 B를 중심으로 합니다. 이전과 동일한 벤드를 사용합니다.

두 그룹이 이 사이를 구부리는 시간과 한 그룹이 카드를 구부리고 완성하는 테스트 가능한 기능 테스트의 시간은 1h를 넘지 않아야 한다.

형익 왜곡 테스트 원리: 테스트 카드를 형익에 배치하여 두 레일의 노치에 느슨하게 고정시키고, 거리 d를 조정하여 카드의 짧은 모서리가 중간 위치에 비해 ± α의 각도를 회전할 수 있도록 하며, 테스트 주파수를 0.5Hz로 설정하고, 회전각 α를 15 ° ± 1 ° 로 설정하며, 기초 표준에 규정된 왜곡 순환 횟수를 집행하고, 규정되지 않으면 1000회의 왜곡 순환을 실행한다.테스트 시작 및 종료 시 카드의 테스트 가능 기능을 확인합니다.테스트 기간 동안 기초 기준에 따른 왜곡 순환 횟수의 4분의 1 이후에 검사할 수도 있다.

기술 매개 변수:

型号：HY (IC)

테스트 속도: 벤드 휨 30r/min및 0.5Hz

테스트 주기: 1 ~ 9999회

왜곡도: ±15°±1° 양방향d=86 mm

정반대 각 15 °, 총 휨 각도 30 °

장변 대위 이동량은 20mm(+0.00mm, -1mm)

긴 변의 작은 변위량은 2mm±0.50mm,

단변 대위 이동량은 10mm(+0.00mm, -1mm)

긴 변의 작은 변위량은 1mm±0.50mm,

긴 모서리 벤드 작업 비트: 5 작업 비트

짧은 벤드 작업 비트: 5 작업 비트

양방향 비틀림 작업 비트: 5 작업 비트

폼 팩터: L745 X W380 X H300

계측 무게: 70kg

전압:AC220V±5%

전력: 35W